E Miessanalysator fir optesch Parameteren vu Strahlen a fokusséierte Flecken ze analyséieren an ze moossen.Et besteet aus enger optescher Zeigeenheet, enger optescher Attenuatiounseenheet, enger Wärmebehandlungseenheet an enger optescher Imaging Eenheet.Et ass och mat Software Analyse Fäegkeeten ausgestatt a bitt Testberichter.
(1) Dynamesch Analyse vu verschiddenen Indikatoren (Energieverdeelung, Peakkraaft, Elliptesch, M2, Fleckgréisst) bannent der Tiefe vum Fokusbereich;
(2) Breet Wellelängtreaktiounsbereich vun UV bis IR (190nm-1550nm);
(3) Multi-Spot, quantitativ, einfach ze bedreiwen;
(4) Héich Schued Schwell op 500W Moyenne Muecht;
(5) Ultra héich Opléisung bis zu 2.2um.
Fir Single-Beam oder Multi-Beam a Beam konzentréieren Parameter Messung.
| Modell | FSA 500 |
| Wellelängt (nm) | 300-1100 |
| NA | ≤0,13 |
| Entrée Schüler Positioun Punkt Duerchmiesser (mm) | ≤17 |
| Duerchschnëtt Power(W) | 1-500 |
| Fotosensitiv Gréisst (mm) | 5,7x4,3 |
| Messbar Punkt Duerchmiesser (mm) | 0,02-4,3 |
| Frame Rate (fps) | 14 |
| Connector | USB 3.0 |
D'Wellelängtberäich vum testbaren Strahl ass 300-1100nm, d'Duerchschnëttstrahlkraaftberäich ass 1-500W, an den Duerchmiesser vum fokusséierte Fleck, deen gemooss gëtt, läit tëscht engem Minimum vun 20μm bis 4,3 mm.
Wärend der Benotzung bewegt de Benotzer de Modul oder d'Liichtquell fir déi bescht Testpositioun ze fannen, a benotzt dann déi agebaute Software vum System fir Datenmiessung an Analyse.D'Software kann den zweedimensionalen oder dreidimensionalen Intensitéitsverdeelungspassend Diagramm vum Querschnitt vum Liichtfleck affichéieren, a kann och quantitativ Daten wéi d'Gréisst, d'Elliptikitéit, d'relativ Positioun an d'Intensitéit vum Liichtfleck an deenen zwee weisen. -dimensional Richtung.Zur selwechter Zäit kann de Strahl M2 manuell gemooss ginn.
