Produkt

China Multi-Spot Beam Profiler Hiersteller FSA500

E Miessanalysator fir d'Analyséieren an d'Miessung vun optesche Parameter vu Stralen a fokusséierte Punkten. En besteet aus enger optescher Richteenheet, enger optescher Dämpfungseenheet, enger Hëtztbehandlungseenheet an enger optescher Bildgebungseenheet. En ass och mat Softwareanalyseméiglechkeeten ausgestatt a liwwert Testberichter.


  • Modell:FSA500
  • Wellelängt:300-1100nm
  • Kraaft:Maximal 500W
  • Markennumm:CARMAN HAAS
  • Produktdetailer

    Produkt Tags

    Instrumentbeschreiwung:

    E Miessanalysator fir d'Analyséieren an d'Miessung vun optesche Parameter vu Stralen a fokusséierte Punkten. En besteet aus enger optescher Richteenheet, enger optescher Dämpfungseenheet, enger Hëtztbehandlungseenheet an enger optescher Bildgebungseenheet. En ass och mat Softwareanalyseméiglechkeeten ausgestatt a liwwert Testberichter.

    Instrumentfeatures:

    (1) Dynamesch Analyse vu verschiddenen Indicateuren (Energieverdeelung, Spëtzeleistung, Elliptizitéit, M2, Punktgréisst) am Déiftenberäich;

    (2) Breet Wellelängteberäich vun UV bis IR (190nm-1550nm);

    (3) Multi-Spot, quantitativ, einfach ze bedreiwen;

    (4) Héije Schuedschwell bis zu 500W Duerchschnëttsleistung;

    (5) Ultrahéich Opléisung bis zu 2,2µm.

    Instrumentapplikatioun:

    Fir d'Miessung vun engem oder méi Stral- a Stralfokusséierungsparameter.

    Instrument Spezifikatioun:

    Modell

    FSA500

    Wellelängt (nm)

    300-1100

    NA

    ≤0,13

    Duerchmiesser vum Pupillenduerchmiesser (mm)

    ≤17

    Duerchschnëttlech Leeschtung(W)

    1-500

    Liichtempfindlech Gréisst (mm)

    5,7x4,3

    Moossbare Punktduerchmiesser (mm)

    0,02-4,3

    Bildfrequenz (fps)

    14

    Stecker

    USB 3.0

    Instrumentapplikatioun:

    De Wellelängteberäich vum testbare Stral ass 300-1100 nm, deen duerchschnëttleche Stralleistungsberäich ass 1-500 W, an den Duerchmiesser vum fokusséierte Fleck, deen ze moossen ass, läit tëscht engem Minimum vun 20 μm an 4,3 mm.

    Wärend der Benotzung beweegt de Benotzer de Modul oder d'Liichtquell fir déi bescht Testpositioun ze fannen, an benotzt dann déi agebaute Software vum System fir d'Datenmiessung an -analyse.D'Software kann den zweedimensionalen oder dräidimensionalen Intensitéitsverdeelungsdiagramm vum Querschnitt vum Liichtfleck uweisen, a kann och quantitativ Donnéeën wéi d'Gréisst, d'Elliptizitéit, d'relativ Positioun an d'Intensitéit vum Liichtfleck an der zweedimensionaler Richtung uweisen. Gläichzäiteg kann de Stral M2 manuell gemooss ginn.

    y

    Strukturgréisst

    j

  • Virdrun:
  • Weider:

  • verwandte Produkter